CX4-230 CX4-430磁粉探傷標準試片屬于美標ASME標準試片，試片用于磁粉探傷時(shí)對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件檢驗時(shí)，可以正確地選擇磁化規范，并可檢驗探傷設備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量,是磁粉探傷的調試工具。

CX-230 CX-430磁粉探傷標準試片屬于美標ASME標準試片，試片用于磁粉探傷時(shí)對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件檢驗時(shí)，可以正確地選擇磁化規范，并可檢驗探傷設備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量,是磁粉探傷的調試工具。

M1型磁粉靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。

D型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。

C型磁粉靈敏度試片最先由日本無(wú)損檢測學(xué)會(huì )提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者常備的調試工具。

磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場(chǎng)強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者的調試工具。