磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型

磁粉探傷靈敏度試片A1、C型、D型、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯示被檢 工件表面具有足夠的有效磁場(chǎng)強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。

A型靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者的調試工具。

特點(diǎn)如下：

試片用于磁粉顯示，圖像直觀(guān)，使用簡(jiǎn)便，對各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復雜的零件時(shí)，表現其*的優(yōu)點(diǎn)。

性能規格：

本套試片包括:7/50、 15/50、 30/50、15/100、 30/100、 60/100各 1 片,共六片。

試片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規格為（11-12）D;=2（um）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規格為（5-6）D。括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為um(微米)，D為工件直徑。

C型靈敏度試片 

產(chǎn)品詳情：

C型靈敏度試片最先由日本無(wú)損檢測學(xué)會(huì )提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者常備的調試工具。

特點(diǎn)如下：

C型標準試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾何形狀復雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點(diǎn)。C型標準試片相當于A(yíng)型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規范相當于8-10D，并可用作鑒定探傷設備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過(guò)程中，可以避免誤判或漏檢。C型標準靈敏度試片,是磁粉探傷工作者常備的調試工具。

性能規格：

本套試片包括:C1: 8/50u  C2:15/50u  共六片，分兩組不同規格的試片組成。

D型靈敏度試片 

產(chǎn)品詳情：

D型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。

性能規格：

本套試片包括 7/50、 15/50、 30/50  各 2 片共六片。

試片D-7/50適用于高靈敏度探傷，規格為( 11-12)D: D-15/50適用于中靈敏度探傷，為( 8-9) D:D-30/50適于用低靈敏度探傷,規格為(5-6)D。

M1型靈敏度試片 

產(chǎn)品詳情：

M1型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場(chǎng)強度有所估量。

性能規格：

每片上含 7/50（外圈￠ 12）、15/50（中圈￠ 9） 、 30/50（內圈￠ 6） 三種靈敏度
每套 2 片

試片外圈（7/50)u適用于高靈敏度探傷，規格為（ 11-12)D:中圈(15/50 ) u適用于中靈敏度探傷，為( 8-9)D:內圈(30/50) u適用于低靈敏度探傷,規格為(5-6）D.

使用方法：

選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的刻槽部位）。

進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，既是磁化電流）。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

注意事項：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂，會(huì )影響探傷靈敏度，不宜繼續使用。