簡(jiǎn)要描述:SH-1半圓試塊可調整探測范圍,測定儀器的水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍,測定斜探頭的入射點(diǎn)、折射角及調整探傷靈敏度。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,交通,電氣 |
SH-1半圓試塊
產(chǎn)品介紹:
SH-1半圓試塊可調整探測范圍,測定儀器的水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍,測定斜探頭的入射點(diǎn)、折射角及調整探傷靈敏度。
試塊參數尺寸:
GB/T 11344-2008
| 4A階梯: 6.25~25mm | 塊 | 480 | |
4B試塊: 5~20mm | 塊 | 480 | ||
4 階梯: 0.25-1.00 英寸 | 塊 | 480 | 美國常規試塊 | |
5A 試塊:2.5~12.5mm | 塊 | 540 | ||
5B 試塊:2~10mm | 塊 | 540 | ||
5 階梯: 0.1-0.5 英寸 | 塊 | 540 | 美國常規試塊 | |
7A 階梯: 3~48mm | 塊 | 680 | ||
7B 階梯: 1~10mm | 塊 | 680 | ||
GB/T18852-2002《測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》 | 半圓階梯試塊(HS 試塊) | 塊 | 1600 | |
橫孔試塊(SDH 試塊) | 塊 | 1340 |
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